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　　小型化无线终端产品(如手机、平板、智能穿戴产品)的快速发展，集成电路(IC)体积逐渐向更小更密集的规格演 进，且加上IC运行速率的提升和成本的下降，使得ICEMC问 题日益受到重视，其中包含IC电磁辐射、辐射抗扰、脉冲抗 扰以及EOS失效模拟等测量解决方案已得到行业广泛应用， 扬芯科技立足电磁兼容软硬件自动化测量方案开发经验，现 已具备完整的IC EMC测量解决方案，符合欧洲、美国及日本 等标准测试要求，可提供针对手机、电脑、家电、汽车电子 等IC的EMC测量解决方案。