辐射杂散(RSE)是带有无线功能的产品的关键技术指标,是产品进入市场销售的必测项目,也是市场抽测的 重点,因此在产品设计和生产阶段都需要保证产品辐射 杂散测试结果符合法规要求且稳定性高。标准全电波暗室测试方案对于研发阶段的快速分析测试和生产阶段的批量测试来说成本太高,测试时间长;辐射杂散快速测试系统,采用多方位、多天线快速切换测试,在保障测试结果准确性的前提下,缩短了测试时间,提升了测试效率, 降低了测试成本,并且在分析定位时可以快速确认最差点方向。整套测试系统一体化设计,简洁美观,占用空间小,可便捷移......
当产品的无线功能处于正常工作时会在某个频率主动发射和(或) 接收信号,为了评估产品无线射频指标的优劣需进行必要的测试,如:辐射杂散(RSE)、空口性能(OTA)、吞吐量(Theoughtput)、复杂 电磁 环境(EME)测试。
RSE是指用标准信号调制时在除载频和由于正常调制和切换瞬态 引起的边带以及邻道以外离散频率上的辐射。杂散发射包括谐波发射、 寄生 发射、互调发射及变频产物,但带外发射除外。EIRP一般是指产品 在空间 中某个方向上最大功率值,可以反馈产品整机最大输出功率和 方向性。......
电子电气产品在做静电和脉冲群抗扰度测试时,较易测试不通 过,出现产品的死机、重启、性能功能下降等异常,成因可以分为硬损 坏和软 失效两类故障。对于硬损坏类的故障,需要找到损坏位置、分析 干扰传递 的路径,并在合适的位置增加或提升防护能力;对于软失效 类的故障,最 大的难点在干扰范围大,干扰路径复杂,无法准确的定位敏感源。
可视化ESD抗扰度诊断分析系统,按照IEC 61000-4-2 ESD抗扰度 标 准,用耦合探头对待测物精准的施加干扰,通过测试软件实时记录 和调整 静电干扰的量级和产品的性......
带无线射频功能的电子产品,除了要解决常规EMC干扰问题外,射频电路和天线与产品中各电路走线、功能组件、关键IC和元器件等 部件之间,也会发生电磁干扰问题。主要表现为射频相关信号干扰其 他部件,导致产品性能的下降或丧失。另外,由于产品布局布线、器 件 选型不佳等原因,产品内一些器件在工作时产生的无意发射电磁噪声也会干扰到射频电路和天线,导致射频灵敏度指标的下降,从而影响产品的无线性能。以上两类问题的解决,必须要能够基于实际场景评估干扰风险,准确分析关联器件和部件的辐射特性及射频抗扰度特 性。可视化辐射......
电子电气产品在电磁兼容设计时,最大的难点在于不 能提前识别 各芯片、组件、器件、走线等的电磁辐射特性。 在整机的架构堆叠和 布局布线设计中,辐射骚扰较强的器 件与辐射抗扰度较差的器件之前 没有充足的隔离度,是导 致产品内部互干扰问题产生的根本原因。并 且,要解决产 品电磁兼容问题,必须清楚的识别和分析其三要素:干 扰 源、传播路径、敏感源。可视化近场辐射诊断分析系统可用 于芯 片、元器件、模组件、FPC、PCBA等部件和整机进行近 场EMI辐射发 射噪声的自动化测量、可视化呈现、多维度分......
一站式EMI诊断测试系统覆盖了工、科、医、照明、电动汽车、家电、机器人等各行各业的 需要,为电子产品产业链上下游企业提供了能快速高效地解决所遇到的EMI问题。......