集成电路电磁兼容测试解决方案
小型化无线终端产品(如手机、平板、智能穿戴产品)
的快速发展,集成电路(IC)体积逐渐向更小更密集的规格 演 进,且加上IC运行速率的提升和成本的下降,使得IC
EMC问 题日益受到重视,其中包含IC电磁辐射、辐射抗扰、 脉冲抗 扰以及EOS失效模拟等测量解决方案已得到行业 广泛应用,扬芯科技立足电磁兼容软硬件自动化测量方案 开发经验,现 已具备完整的IC EMC测量解决方案,符合欧 洲、美国及日本 等标准测试要求,可提供针对手机、电脑、 家电、汽车电子 等